近期，中科院合肥研究院智能所仿生智能中心在自主開發的軟件平臺上實現了3D視覺測量技術、視覺缺陷檢測等項技術的完美融合，解決了國內首款國產GPU—凌久GP102的外觀檢測問題。目前首臺具有自主知識產權的BGA芯片外觀檢測設備已正式交付并通過驗收。

　　為滿足芯片出廠質量控制和芯片可追溯性需求，科研團隊經過半年的產品研發和測試工作，成功研制出具有自主知識產權的BGA芯片外觀檢測設備A3DOI-BGA，該設備可批量采集芯片的三維圖像數據、平面RGB圖像數據、激光點云數據等，結合傳統及人工智能算法，實現測量精度、缺陷識別率等各項性能指標的完全達標，部分指標可超越相關進口檢測設備。該設備的核心傳感器均來自國產，具備微米級別超高測量精度，可兼容多種BGA封裝芯片檢測，實現芯片成品3D形貌測量。

　　A3DOI-BGA的成功交付標志著團隊自主研發的3D視覺測量技術正式走出實驗室，為國內的芯片制造用戶提供專業、高精度、可靠的視覺技術服務和成套檢測設備。

BGA芯片外觀檢測設備及顯示界面